Defect Inspection of Patterned Thin-film Ceramic Light-emitting Diode Substrate Using a Fast Randomized Principal Component Analysis

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题名:	Defect Inspection of Patterned Thin-film Ceramic Light-emitting Diode Substrate Using a Fast Randomized Principal Component Analysis
作者:	Perng；, 劉曉薇；Hsiao-Wei Liu；陳思翰；Ssu-Han Chen；*；彭德保；Der-Baau
贡献者:	經營管理學系
日期:	2016-05
上传时间:	2016-09-20 11:44:30 (UTC+8)
關聯:	IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING
显示于类别:	[會計與資訊學系] 期刊論文

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